产品描述：
NANOSENSORS AdvancedTEC FMAu 探针是专为力调制模式设计的。此款探针的四面体针尖是位于悬臂的末端，由于其独特的可视化针尖结构，可以精确地定位并使得AdvancedTEC是唯一的原子力显微镜扫描时能通过显微镜看到针尖作用于样品的位置（即针尖与样品接触点）。这种特性使得很容易将针尖定位在感兴趣的区域或必须可见的区域（如纳米操作）进行扫描。
由于AdvancedTEC系列的针尖有非常小的半锥角，使得其能在一个小范围内测量落差比较大的样品。
该探针独特的功能：
- 可视化针尖
- 金属导电性针尖
- 针尖长度15～20μm
- 高机械品质Q因子以及高灵敏度
金涂层是约70nm厚的铬和金的双层涂层。大大提高了针尖的导电性并允许连通。该涂层增强了激光束的反射率2倍。此外还可以防止悬臂的光干涉。
涂层的工艺使得悬臂具有应力补偿，并且针尖具有良好的耐磨性。悬臂的压力使弯曲低于3.5％。
请注意：当针尖使用于接触模式，摩擦理模式或力调制模式，由于磨损，或有必要增大电流。
应用范围：
力调制模式，液相下，生物应用
技术数据：
Technical Data
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Value
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Range
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Force Constant
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2.8N/m
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0.7
- 9.0
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Resonance Frequency
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85 kHz
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50
– 130
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Length
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240µm
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230
- 250
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Width(rectangular part)
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35 µm
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30
- 40
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Thickness
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3 µm
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2.0
- 4.0
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Shape / Cross-section
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Rectangular / Trapezoidal
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Number of Cantilevers
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1
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Tip Offset
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0
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Tip Style
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Pyramidal
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Tip Height
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15-20
µm
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Tip Radius
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<50nm
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Tip Aspect Ratio
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-
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Material
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Single
Crystal Silicon, Highly Doped
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Chip Size
(industry standard)
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Coating (optional)
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70 nm thick
double layer of chromium and gold on both sides of the cantilever
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